Analiza systemów pomiarowych MSA – pomiary ciągłe, atrybutywne i badania niepowtarzalne
Zakres szkolenia:
Podstawowe pojęcia i oznaczenia statystyczne – populacja, próbka, reprezentatywność danych
Źródła zmienności w procesach – przyczyny ogólne i specjalne
Podstawowe parametry rozkładu procesu i ich ocena – wyśrodkowanie, rozrzut, kształt
Zmienność w procesie pomiarowym a zmienność procesu produkcyjnego
Podstawowe pojęcia metrologiczne (pomiar, rozdzielczość, wartość rzeczywista, wartość odniesienia, urządzenie pomiarowe)
Aspekty oceny systemów pomiarowych – powtarzalność, odtwarzalność i dokładność
Optymalizacja badań systemów pomiarowych w oparciu o model PISMOEA
Wpływ systemu pomiarowego na ocenę zdolności procesu i poprawną kwalifikację wyrobu
Procedura typu I (badanie Cg/Cgk) – wstępna ocena powtarzalności i dokładności systemu pomiarowego
Procedura typu II - badanie GRR metodą ARM
zasady stosowania, dobór próbek do badania
interpretacja algorytmu obliczeniowego (MS Excel)
interpretacja współczynników AV, EV, GRR, PV i TV
interpretacja współczynnika ndc (number of distinct categories)
wyznaczanie współczynnika %GG w odniesieniu do zmienności próbek, tolerancji lub zdolności procesu
metoda ANOVA - omówienie
pojęcie interakcji i jego praktyczne zastosowania
porównanie a wyników metodą ARM oraz ANOVA
eksperyment pomiarowy: badanie GRR cech ciągłych
Procedura typu III (badanie GRR w systemie bez wpływu operatora) - założenia, opis badania
Badanie GRR w pomiarach niepowtarzalnych
założenia dotyczące analizy systemów do pomiarów niepowtarzalnych
przygotowanie próbek – warunki niezbędne do uzyskania pozytywnego wyniku badania
zasady przeprowadzania eksperymentu (model eksperymentu, randomizacja)
analiza danych metodą ANOVA - interpretacja wyników
Atrybutywne systemy pomiarowe:
wprowadzenie, przygotowanie próbek, warunki przeprowadzania badania
metoda kappa: obliczenia i interpretacja wyników
ocena i interpretacja efektywności, fałszywych alarmów oraz błędnych akceptacji.
eksperyment pomiarowy: wykorzystanie metody kappa w ocenie wzrokowej
metoda detekcji sygnału: warunki stosowania, przygotowanie próbek, przeprowadzenie eksperymentu, obliczenia i interpretacja wyników
Zalecenia podręcznika AIAG MSA oraz wymagania normy IATF 16949 w zakresie planowania i oceny systemów pomiarowych
Wybrane wymagania specyficzne klientów w zakresie oceny systemów pomiarowych (Ford, VDA)
Szczególne przypadki systemów pomiarowych (nieopisane w podręcznikach)
Podsumowanie szkolenia – pytania i odpowiedzi
Uczestnicząc w szkoleniu:
Zrozumiesz, czym są czynniki zmienności procesu i jaki mamy na nie wpływ.
Zrozumiesz interpretacji współczynników zdolności procesu i ich wpływ na jakość produkcji.
Poznasz korzyści z wdrażania statystycznej oceny procesu.
Nabędziesz umiejętność doboru, prowadzenia i interpretacji kart kontrolnych.
Zrozumiesz wpływu systemu pomiarowego na ocenę procesu.
Nabędziesz umiejętność interpretacji współczynnika GRR oraz wynikających z niego możliwości doskonalenia systemu pomiarowego.
Poznasz metody oceny systemów atrybutowych.
Adresaci szkolenia:
Szkolenie skierowane jest przede wszystkim do osób odpowiedzialnych za projektowanie i nadzór nad procesami technologicznymi oraz za dobór i ocenę systemów pomiarowych. W modelu kompetencji Formuły Jakości w szkoleniu powinni uczestniczyć kandydaci na: Inżyniera jakości w motoryzacji oraz Inżyniera procesu w motoryzacji. Sugerujemy również udział osób realizujących funkcje opisane w pozostałych profilach, czyli: pełnomocników ds. SZJ, Audytorów wewnętrznych oraz Liderów projektu w motoryzacji.